REM - Rasterelektronenmikroskopie
Mittels Rasterelektronenmikroskopie können wir
- Gefügeanalysen
- Metallographie mittels Rückstreu- und Sekundärelektronenbilder
- Texturanalysen mittels EBSD (Electron Backscattter Diffraction)
- Analysen zu Mineral- bzw. Kristallitalterationen
durchführen.
- Die Rückstreubilder (EBSD - Electron Backscattter Diffraction) können in Absprache quantitativ (z.B. Partikelanalysen, Korngrößen, Korngrenzorientierungen, Porosität und Rissverteilungen in 2D) ausgewertet werden.
- Mittels EDX (energiedispersiver Röntgenstrahlen) können Elementverteilungen in Profilen oder Rasteranalysen durchgeführt werden (z.B. für eine Schadensanalytik)
- Ergänzend zu den globalen Texturanalysen, können mittels EBSD lokal ortsaufgelöst Kristallorientierungen in einer Auflösung von 500 nm durchgeführt werden.